"Applied Scanning Probe Methods IX" ist ein Fachbuch, das sich mit der Charakterisierung von Materialoberflächen und molekularen Systemen befasst. Es ist Teil einer renommierten Buchreihe, die sich mit den Fortschritten in der Rastersondenmikroskopie und deren Anwendungen beschäftigt. In diesem Band werden verschiedene Techniken zur strukturellen und lokalen mechanischen Charakterisierung behandelt, wobei ein breites Spektrum an STM- und AFM-Untersuchungen abgedeckt wird. Die Autoren, darunter renommierte Experten wie Bharat Bhushan und Harald Fuchs, präsentieren aktuelle Forschungsergebnisse und innovative Ansätze in der Materialwissenschaft. Die Kapitel sind systematisch gegliedert und bieten einen tiefen Einblick in die neuesten Entwicklungen und Anwendungen in der Rastersondenmikroskopie. Dieses Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit den neuesten Techniken und deren praktischen Anwendungen in der Forschung und Industrie auseinandersetzen möchten.