Die "Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento" ist ein Fachbuch, das sich mit der Technik der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie beschäftigt. Diese Methode ermöglicht es, die chemische Zusammensetzung von Oberflächen durch die Analyse von Fotoelektronen zu bestimmen, die durch die Bestrahlung mit Röntgenstrahlen erzeugt werden. Das Buch bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen dieser wichtigen Analysetechnik, die in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaften, Mikroelektronik und Katalyse von Bedeutung ist. Es wird erläutert, wie die Energie der emittierten Fotoelektronen von der elektronischen und chemischen Konfiguration der Atome abhängt, was zu wertvollen Informationen über die Oberflächenbeschaffenheit führt. Die XPS-Technik ist besonders vorteilhaft, da sie in der Lage ist, stabile Proben unter Ultra Hochvakuum-Bedingungen zu analysieren, ohne diese zu schädigen. Dieses Buch ist eine wertvolle Ressource für Studierende und Fachleute, die sich mit der Charakterisierung von Materialien und deren Oberflächen beschäftigen.