Das Buch "Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits" bietet eine umfassende Einführung in die Testmethoden und Fehlersuche von analogen integrierten Schaltungen, die sowohl für Studierende als auch für Fachleute in der Elektronikbranche von Bedeutung ist. In einer Zeit, in der System-on-Chip (SoC) Designs sowohl digitale als auch analoge Schaltungen integrieren, wird die Notwendigkeit für effektive Testmethoden immer dringlicher. Während digitale Testmethoden gut etabliert sind, bleibt die Testung analoger Schaltungen eine Herausforderung, die aufgrund der Komplexität analoger Signale umfangreiche Forschung erfordert. Dieses Fachbuch behandelt die Grundlagen und fortgeschrittene Techniken zur Fehlersuche in bipolaren und MOS-Schaltungen und bietet wertvolle Einblicke in die Entwicklung von Teststimuli sowie experimentelle Verifikationen moderner Techniken. Es ist eine wertvolle Ressource für alle, die sich mit der Analyse und dem Testen von analogen Schaltungen beschäftigen.