Das Fachbuch "Noncontact Atomic Force Microscopy" von Franz J. Giessibl bietet eine umfassende Analyse der Fortschritte in der nicht-kontaktierenden Rasterkraftmikroskopie (NC-AFM) seit der ersten Veröffentlichung im Jahr 2002. Es behandelt bedeutende Entwicklungen und Ergebnisse, die mit atomarer Auflösung erzielt wurden, und beleuchtet innovative Technologien wie die Kraftspektroskopie, atomare Manipulation und magnetische Austauschkraftmikroskopie. Das Buch zeigt, wie NC-AFM zu einem unverzichtbaren Werkzeug in den Bereichen Nanowissenschaft und Nanotechnologie geworden ist, indem es die Charakterisierung und Manipulation von Einzelatomen, Molekülen und Nanostrukturen mit atomarer und subatomarer Auflösung ermöglicht. Die behandelten Themen sind von grosser Bedeutung für Forscher und Fachleute, die sich mit den neuesten Entwicklungen in der Materialwissenschaft und Nanotechnologie beschäftigen.