Das Fachbuch "PICTS ve PL Yöntemleri ile Yar iletken Yap lar n ncelenmesi" von Hatice Basak bietet eine umfassende Untersuchung der tiefen Fallenebenen in Halbleitermaterialien, insbesondere in GaInNAs/GaAs dotierten Quantenstrukturen. Die Analyse erfolgt mittels der Photo-Induced Current Transient Spectroscopy (PICTS), die es ermöglicht, die Aktivierungsenergien und Fangquerschnitte der tiefen Ebenen zu bestimmen. Das Buch behandelt sowohl einfache als auch multiple Quantenbrunnen und untersucht die Auswirkungen von Wärmebehandlungen auf die elektrischen Eigenschaften dieser Materialien. Die Ergebnisse werden im Kontext der bestehenden Literatur diskutiert, was dem Leser einen tiefen Einblick in die aktuellen Entwicklungen und Herausforderungen in der Halbleiterforschung bietet.