Das Buch "Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Supermikroskopie, insbesondere der Atomkraftmikroskopie (AFM) und der Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM). Es richtet sich an Fachleute aus den Naturwissenschaften, einschliesslich Physik, Chemie, Mineralogie, Materialwissenschaften, Biologie und Medizin, sowie an Fachleute im Bereich der Nanotechnologie. Die Monographie behandelt die Unterschiede zwischen nano- und mikro-mechanischen Tests und erläutert die Herausforderungen und Lösungen bei der Untersuchung von rauen und technischen Oberflächen im Submikronbereich. Besondere Aufmerksamkeit wird den neuen Instrumentierungen, physikalischen Gesetzen und innovativen Anwendungen gewidmet, die in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen von Bedeutung sind. Zudem werden häufige Fehlerquellen und deren effiziente Behebung behandelt, um die Anwendung der Prinzipien auf reale wissenschaftliche und industrielle Aufgaben zu erleichtern.