Das Buch "Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials" bietet eine umfassende Einführung in die Konzepte der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Röntgenbeugung (XRD), die für die Charakterisierung von Materialien von entscheidender Bedeutung sind. In der vierten Auflage werden wichtige neue Techniken der TEM vorgestellt, darunter Elektronentomographie, Nanobeam-Diffraction und geometrische Phasenanalyse. Ein neues Kapitel über Neutronenstreuung ergänzt die Themen Röntgen-, Elektronen- und Neutronenbeugung. Alle Kapitel wurden aktualisiert und überarbeitet, um die Klarheit zu verbessern. Das Buch behandelt die Grundlagen der Wechselwirkungen von Wellen und Wellenfunktionen mit Atomen in Festkörpern sowie die Unterschiede und Gemeinsamkeiten bei der Verwendung von Röntgenstrahlen, Elektronen oder Neutronen für Beugungsmessungen. Es werden sowohl praktische als auch theoretische Aspekte behandelt, was es für Einsteiger und Fortgeschrittene gleichermassen geeignet macht.