Das Buch "Structural, optical and electrical properties of NiTPP Thin films" bietet eine umfassende Untersuchung der strukturellen, optischen und elektrischen Eigenschaften von NiTPP-Dünnfilmen. Es behandelt die Analyse der kristallinen Struktur und der physikalischen Eigenschaften dieser Materialien durch verschiedene Methoden wie Differentialthermoanalyse, Thermogravimetrie, Röntgendiffraktometrie, Rasterelektronenmikroskopie, Transmissionselektronenmikroskopie und Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie. Die Ergebnisse zeigen, dass die als-deponierten Dünnfilme amorph sind, während die nach dem Glühen erhaltenen Filme eine polykrystallinische Struktur aufweisen. Darüber hinaus werden die optischen Eigenschaften durch spektrophotometrische Messungen untersucht, um den Brechungsindex und den Absorptionsindex zu bestimmen. Die elektrischen Eigenschaften werden im Hinblick auf den Leitungsmechanismus und die Halbleitereigenschaften analysiert, wobei die NiTPP-Filme als p-Typ-Halbleiter identifiziert werden.