Das Buch "Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits" bietet eine umfassende Analyse der Test- und Entwurfsmethoden für analoge und gemischte Signal-ICs. In einer Zeit, in der System-on-Chip (SoC) Technologien zunehmend komplexer werden, wird die Testbarkeit zu einem entscheidenden Faktor für den Erfolg von integrierten Schaltungen. Dieses Fachbuch richtet sich sowohl an Fachleute als auch an Studierende und vermittelt grundlegende Konzepte sowie innovative Ansätze in verständlicher Form. Es beleuchtet die Herausforderungen und Lösungen in der Testbarkeit von heterogenen Systemen und bietet einen wertvollen Überblick über den aktuellen Stand der Forschung. Die detaillierte Behandlung verschiedener Themen, einschliesslich der Nutzung von DSP-basierten Testwerkzeugen und der Standardisierung nach IEEE 1149.4, macht es zu einer wichtigen Ressource für alle, die sich mit der Entwicklung komplexer ICs beschäftigen.